X射線熒光測量儀 XDV ® -μ PCB
X射線熒光測量儀 XDV ® -μ PCB
日本進口fischerX射線熒光測量儀 XDV ® -μ PCB
特征
- 用于測量大型印刷電路板微結構部件的模型
- 通過采用創(chuàng)新的多毛細管透鏡，即使在非常小的測量光斑中也可以獲得較大的激發(fā)強度。
主要規(guī)格
它是一種配備多毛細管透鏡的高性能熒光X射線測量設備，專為大型印刷電路板和零件微結構部件的材料分析和膜厚測量而設計。
| 模型 | XDV-μPCB |
|---|---|
| 測量元件范圍 | 鋁 (13) -U (92) |
| X射線探測器 | 硅漂移探測器 (SDD) |
| X射線管 | 微調焦管 |
| 初級過濾器 | 4種 |
| X 射線光學元件 / 尺寸 | 多毛細管透鏡 Φ20µm（選項 Φ10µm） |
| 車身尺寸 | 670 x 885 x 660mm（寬x深x高） |
| 有效樣品放置區(qū) | 600 x 600mm（寬 x 深） |
| 能量消耗 | 高達 120W |
主要應用
- 大型印刷電路板的測量
- 薄膜厚度測量
- 大型印刷電路板的測量
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