產(chǎn)品展示PRODUCTS
您當(dāng)前的位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品展示 > 測(cè)試儀 > 測(cè)量?jī)x > 日本uniontoo數(shù)字測(cè)量?jī)x數(shù)字通行儀DS-2000
日本uniontoo數(shù)字測(cè)量?jī)x數(shù)字通行儀DS-2000
更新日期：2024-05-11
訪問(wèn)量：536
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商
生產(chǎn)地址：
簡(jiǎn)要描述：
日本uniontoo數(shù)字測(cè)量?jī)x數(shù)字通行儀DS-2000達(dá)到0.01μm（10 nm）的分辨率實(shí)現(xiàn)出色的平直度和可重復(fù)性可以用恒定的測(cè)量力進(jìn)行測(cè)量
日本uniontoo數(shù)字測(cè)量?jī)x數(shù)字通行儀DS-2000
日本uniontoo數(shù)字測(cè)量?jī)x數(shù)字通行儀DS-2000
特征
達(dá)到0.01μm（10 nm）的分辨率
測(cè)量指令精度為±0.1μm。提供亞微米管理環(huán)境。
實(shí)現(xiàn)出色的平直度和可重復(fù)性
*的可移動(dòng)方法使砧座平穩(wěn)移動(dòng)，從而可以進(jìn)行高精度的測(cè)量。
可以用恒定的測(cè)量力進(jìn)行測(cè)量
在測(cè)量范圍內(nèi)的任何位置均具有恒定的測(cè)量力。可以防止由于工作尺寸的差異而導(dǎo)致的測(cè)量誤差。
此外，客戶可以輕松更改測(cè)量力。
測(cè)量用法示例
參考
實(shí)際測(cè)量示例介紹
特征
達(dá)到0.01μm（10 nm）的分辨率
測(cè)量指令精度為±0.1μm。提供亞微米管理環(huán)境。
實(shí)現(xiàn)出色的平直度和可重復(fù)性
*的可移動(dòng)方法使砧座平穩(wěn)移動(dòng)，從而可以進(jìn)行高精度的測(cè)量。
可以用恒定的測(cè)量力進(jìn)行測(cè)量
在測(cè)量范圍內(nèi)的任何位置均具有恒定的測(cè)量力。可以防止由于工作尺寸的差異而導(dǎo)致的測(cè)量誤差。
此外，客戶可以輕松更改測(cè)量力。
測(cè)量用法示例
參考
實(shí)際測(cè)量示例介紹
- Digisuke系列
- 數(shù)字通行儀DS-2000
- 保修登記
- Digisuke系列
- 數(shù)字通行儀DS-2000
- 保修登記
相關(guān)文章
